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激光雷达漫反射目标板—————广州景颐光电科技有限公司，是专门做测试白板、漫反射板的

(一）漫反射基本原理

当光照射到疏松的固态样品的表面时，除有一部分被样品表面立即反射出来(称为镜反射光）之外，其余的入射光在样品表面产生漫射，或在样品微粒之间辗转反射逐渐衰减，或为穿入内层后再折回的散射。这些接触样品微粒表面后被漫反射或散射出来的光具有吸收一衰减特性，这就是漫反射产生光谱的基本原因。漫反射装置的作用就是强度地把这些漫射、散射出来的光能收聚起来送入检测器，使得到具有良好信噪比的光谱信号。

(二）漫反射的测量

由于光线照射到固体样品上时，镜面反射和漫反射是同时存在的，将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效的消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和的现象。稀释基质应在研究波数范围内对IR光无吸收且有较高反射能力，常用的稀释基质有KC1和KBr 等。卤化钾与样品的比例一般在20:1至10:1之间。测试时将卤化钾与样品混合装入样品槽即可测得混合粉末的漫反射谱，将该谱与卤化钾粉末的漫反射相比就得到样品的漫反射谱。

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漫反射谱有两种表示方式，一种用漫反射率(漫反射光与入射光强度之比)来表示，另一种用Kubelka-Munk函数f(Ro)来表示。

漫反射用于定量分析时，与样品浓度C呈线性关系的不是峰高，是根据Kubelka-Munk函数得出的f(R)。

漫反射率和样品浓度的关系可由Kubelka-Munk方程来描述:

f(Roo)=(1- Ro)2/2R co=K/S

上式中f(Ro)称为K-M函数，Roo代表样品层厚时的漫反射率（实际上几个毫米厚度就可以了），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数〈与样品粒度有关，粒度一定时为常数）。由于K与粉末样品浓度C成正比，由此可知，f(Rco)与C成正比，这是漫反射定量分析的依据。

需注意

(1）在高浓度区域，K-M方程不适用，一般需将样品稀释到无吸收的卤化钾基质中进行测量。样品浓度要在10%以下。

(2）当用卤化钾做参比样品时，Rco可用Roo(样品〉和Ro（参比》之比取代来计算，即Ro=Ro(样品）/Roo(参比）。

(3）散射系数S与样品密度和粒子尺寸有关。当比较一系列化合物的漫反射谱时，粒子尺寸和样品密度也应保持一致。

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红外与红外漫反射的区别

两者是很类似的 你说的FTIR是透射模式，而漫反射DRIFT是采用的漫反射模式，关键在于这两者模式的差别。

透射是通过检测透过的光来得到样品的吸收率，而漫反射是检测样品漫反射的信号，你可以想象，一束光打在样品上，光会在样品里经过多次反射和吸收。

这样的光会分成几个部分，有透射光，有吸收光，有镜面反射光也有漫反射光，其中透射光和镜面反射光的比例基本上可以忽略不计，也就是说光基本上分为两部分，吸收和漫反射。

通过漫反射测定到的漫反射信号，也就是测定吸收的信号，这同样反映出样品的吸收的官能团，所以其实和透射模式是相似的，当然说的是的谱图。

但两者的峰的强度和峰的相对比例可能会不同。

说到两者的选择，建议你翻翻不久前的一个帖子，里面就说到了。低碳当样品吸收适当且散射能量弱时，可以采用透射法即FTIR，当样品散射或反射能量大时采用漫反射方法即DRIFT。